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Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC

Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC

Macchina accelerata della prova di invecchiamento di pressione

Camera del PCT a semiconduttore di IC

Camera del PCT della prova ambientale

Luogo di origine:

La CINA

Marca:

BOTO

Certificazione:

CE ISO

Numero di modello:

BT-H-2273

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Dettagli del prodotto
Alimentazione elettrica:
le linee di 1 PH3, 50/60HZ;
Temperatura di funzionamento::
121℃; 132℃; (selezione speciale 143℃)
Gamma di temperature::
100~135℃
Norma::
IEC60068-2-66 ets
Protegga::
Breve stoccaggio dell'acqua
Pressione del vapore::
3.0Kg/cm2
Scaffale del campione::
Due strati
Metodo di circolazione::
Circolazione naturale di convezione del vapore acqueo
Umidità di funzionamento::
Umidità del vapore saturo 100%RH
Accessori::
divisione di acciaio inossidabile di Tre-strato
Evidenziare:

Macchina accelerata della prova di invecchiamento di pressione

,

Camera del PCT a semiconduttore di IC

,

Camera del PCT della prova ambientale

Termini di pagamento e di spedizione
Quantità di ordine minimo
1set
Prezzo
Negotiated
Imballaggi particolari
casi di legno standard
Tempi di consegna
1-15 giorni, essere negoziato
Termini di pagamento
L/C, T/T
Capacità di alimentazione
100 insieme/insiemi al mese
Descrizione del prodotto

Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC

Descrizione di prodotto
L'attrezzatura di prova accelerata ad alta tensione invecchiare del PCT di campo di applicazione è adatta a prestazione di sigillatura di difesa, di spazio aereo, delle parti automobilistiche, delle componenti elettroniche, della plastica, delle industrie del magnete, dei prodotti farmaceutici, dei circuiti, dei circuiti a più strati, di IC, del LCD, dei magneti, dell'illuminazione, dei prodotti di illuminazione e di altri prodotti che provano, dei prodotti relativi a prova di vita accelerata, utilizzati nella fase di progettazione, usata per esporre rapidamente i difetti del prodotto e le debolezze. Verifichi la resistenza all'usura e la tenuta dell'aria dei suoi prodotti
Rispetti la norma della prova può incontrare IEC60068-2-66, JESDEC-A110, A118, IEC60068-2-66, JESDEC A110, A118
L'alto clima accelerato di simulazione della camera di prova di sforzo caratterizza 1. La struttura del doppio-circuito dell'elettrovalvola a solenoide ad alta temperatura importata è adottata, che riduce l'incidenza guasti di uso nella massima misura possibile. 2. stanza separata della generazione del vapore evitare impatto diretto di vapore sul prodotto, per non danneggiare parziale il prodotto. 3. La struttura economica della serratura di porta risolve le imperfezioni della chiusura difficile della maniglia del disco del prodotto della prima generazione. 4. aria fredda dello scarico prima della prova; la progettazione dello scarico dell'aria fredda durante la prova (aspirare l'aria nel barilotto della prova) migliora la stabilità e la riproducibilità di pressione. 5. tempo sperimentale Ultra-lungo-durevole di operazione, 400 ore affinchè la macchina funzionino a lungo. 6. protezione del livello dell'acqua, tramite il sensore di livello dell'acqua nella sala di collaudo individuare e proteggere. 7. progettazione di resistenza della pressione del carro armato, la resistenza della pressione del corpo del carro armato (140t)) 2.65kg, in conformità con la prova di pressione dell'acqua 6kg. 8. il dispositivo di protezione a due stadi della sicurezza di pressione adotta un regolatore a due stadi di combinazione e un dispositivo di protezione meccanico di pressione. 9. bottone automatico a due stadi di limitazione della pressione per protezione di sicurezza ed il dispositivo di sicurezza di emergenza.
Informazioni di dimensione
modello
PCT-30
PCT-35
PCT-35
Dimensioni interne (WxHxD) millimetro
300x500
340x500
400×500
Temperatura di funzionamento
121°C; 132°C; (selezione speciale 143°C)
Usi la pressione di vapore (pressione assoluta)
1 pressione atmosferica ambientale +0.0Kg/cm2-2.0Kg/cm2; (3.0Kg/cm2ffl nelle specifiche speciali)
Metodo di circolazione
Circolazione naturale di convezione del vapore acqueo
Dispositivo di protezione di sicurezza
Protezione della mancanza di acqua, protezione di sovrappressione, (con funzione automatica/manuale di riempimento dell'acqua, la funzione automatica di limitazione della pressione)
Accessori
Tre strati dell'assicella di acciaio inossidabile
Umidità di funzionamento
Umidità del vapore saturo 100%RH
Alimentazione elettrica
AC220V, 50/60Hz/
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 0
Immagini dettagliate
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 1
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 2
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 3
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 4
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 5
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 6
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 7
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 8
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 9
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 10
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 11
Specificazione di fabbricazione
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 12
Camera di prova altamente accelerata del PCT della macchina della prova di invecchiamento di pressione per i semiconduttori di IC 13

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